Ra mắt bộ định hình quang học 3D đo lường bề mặt

Polytec đã công bố giới thiệu các sản phẩm hồ sơ quang học 3D mới. Các bổ sung mới nhất cho gia đình TopMap là Micro.View và Micro.View +. Những máy định hình quang học hàng đầu này rất lý tưởng để đo độ nhám, kết cấu, độ sóng, chiều cao bước và các thông số bề mặt khác.

Trong nhiều thập kỷ, bút định hình là trụ cột chính trong việc đánh giá các đặc điểm bề mặt mịn như độ nhám, kết cấu và/hoặc độ gợn sóng. Đối với các ứng dụng cần có chế độ xem bề mặt đầy đủ hơn hoặc những ứng dụng không mong muốn tiếp xúc với bút stylus, các công nghệ không tiếp xúc sử dụng phép đo giao thoa ánh sáng trắng đã được chấp nhận rộng rãi. Ngoài độ phân giải dọc cao (sub nm), công nghệ xác định có khả năng đo các bề mặt thô, nhẵn, phản chiếu, mờ và trong suốt. Hơn nữa, khía cạnh không tiếp xúc tương thích với hầu hết các loại vật liệu như kim loại, nhựa, gốm, vải, quang học, v.v. Việc cung cấp đầu ra dạng số (Ra, Sa, Sq, v.v.) bằng cách sử dụng giải pháp 3D có thể thực sự tạo ra các biểu đồ trực quan trực quan có thể được sử dụng để chẩn đoán nhanh các sự cố sản xuất và quản lý các tắc nghẽn quy trình một cách hiệu quả. Công nghệ bù trừ môi trường (ECT) đã được cấp bằng sáng chế của Polytec cùng với các tính năng nâng cao giúp tự động hóa tiêu điểm bộ phận, ghi kết quả và nâng cao đáng kể tính dễ sử dụng khiến các giải pháp mới này trở nên lý tưởng trong môi trường phòng thí nghiệm hoặc ngoài xưởng sản xuất. TopMap Micro.View là một trình biên dạng quang học nhỏ gọn và dễ sử dụng. Kết hợp hiệu suất vượt trội và khả năng chi trả với phạm vi đo Z 100 mm mở rộng và Công nghệ quét liên tục CST, Micro.View đo các địa hình phức tạp ở độ phân giải nm. Thiết lập trên bàn thuận tiện này có tính năng điện tử tích hợp, với công cụ tìm tiêu điểm thông minh giúp đơn giản hóa và tăng tốc quy trình đo. Hưởng lợi từ ECT tùy chọn, đảm bảo kết quả đo chính xác và đáng tin cậy ngay cả trong môi trường sản xuất ồn ào và đầy thách thức.

TopMap Micro.View+ được thiết kế theo mô đun, máy trạm toàn diện này cho phép cấu hình tùy chỉnh và dành riêng cho ứng dụng. Micro.View + cung cấp phân tích chi tiết nhất về độ nhám bề mặt, kết cấu và địa hình cấu trúc vi mô. Kết hợp dữ liệu 3D với thông tin màu sắc để tạo ra các hình ảnh hóa đáng kinh ngạc và phân tích mở rộng như tài liệu chi tiết về các lỗi. Máy ảnh 5 MP có độ phân giải cao mang đến khả năng trực quan hóa dữ liệu 3D cực kỳ chi tiết của các bề mặt được thiết kế. Tháp pháo được mã hóa và cơ giới hóa đảm bảo quá trình chuyển đổi liền mạch giữa các mục tiêu. Micro.View+ có Focus Finder mới nhất cộng với Focus Tracker, giúp bề mặt luôn được lấy nét trong mọi tình huống. Các giai đoạn định vị mẫu được cơ giới hóa hoàn toàn cho phép khâu và tự động hóa. Trong hơn 50 năm, Polytec đã cung cấp các giải pháp đo lường quang học cho hàng không vũ trụ, ô tô, điện tử tiêu dùng, y sinh, công nghệ vi mô và nano, kỹ thuật cơ khí, thử nghiệm sản xuất và các thị trường khác với mục tiêu giúp khách hàng đổi mới và dẫn đầu về công nghệ. Để biết thêm thông tin: www.polytec.com