Chức năng quang học mới để đo nhanh hơn:
Vì công nghệ đo tọa độ từ lâu đã được bổ sung bằng các phương pháp đo quang học để thu thập thông tin quan trọng nhằm cải tiến quy trình và sản phẩm, ZEISS CALYPSO 2022 cũng mang đến nhiều cải tiến và phát triển mới về mặt quang học. Ví dụ: phiên bản mới nhất của phần mềm đo lường toàn cầu hiện cũng hỗ trợ ZEISS O-DETECT mới. Điều này có nghĩa là các kế hoạch kiểm tra từ các CMM khác – đặc biệt là từ ZEISS O-INSPECT – giờ đây cũng có thể được chạy trên thiết bị. Điều này có nghĩa là người dùng ZEISS O-DETECT có quyền truy cập vào tất cả các đánh giá báo cáo và chức năng CALYPSO như PCM, đường cong hoặc tạo kế hoạch kiểm tra với PMI. Theo Haas, tính năng sửa méo quang học để tăng độ chính xác của hệ thống quang học cũng sẽ 'kích thích người dùng' vì nó làm tăng khả năng sửa méo quang học. Sự gia tăng đáng kể về độ chính xác đặc biệt đáng chú ý ở các khu vực ngoại vi. Việc sử dụng các độ phóng đại nhỏ làm tăng 'trường nhìn'. Nhiều yếu tố hình học có thể được ghi lại trong ảnh cùng một lúc. Tùy thuộc vào nhiệm vụ đo lường và dung sai yêu cầu, điều này làm giảm số lượng hình ảnh đo lường cần thiết và đồng thời tiết kiệm thời gian đo lường. Theo Haas , tùy thuộc vào nhiệm vụ đo lường và dung sai cần thiết, người dùng có thể “ giảm tới 50% thời gian đo lường của họ với điều này” .Phân tích lỗi tự động
Các hệ thống CMM, đặc biệt là hệ thống quang học, ngày càng nhanh hơn. Ví dụ, ngày nay, ZEISS CALYPSO có thể dễ dàng đo 1000 lỗ trong mười phút. Tuy nhiên, việc đánh giá thủ công các nhật ký đo lường được sử dụng để tiêu tốn nhiều thời gian hơn. Với phiên bản mới của ZEISS CALYPSO, các đặc điểm kiểm tra có khuyết tật được phát hiện và thông tin chi tiết đầy đủ được tự động hiển thị trong báo cáo đo lường. Khái niệm đặc tính kiểm tra ZEISS CALYPSO hiện cũng đã được tích hợp vào phân tích lỗi tự động trong Báo cáo ZEISS PiWeb. Điều này có nghĩa là tất cả các đặc điểm 'ngoài dung sai' hiện được tự động hiển thị trong chế độ xem CAD tương tác. Điều này có nghĩa là người dùng không còn phải vất vả tìm kiếm các lỗi trong nhật ký. Điều này giúp tiết kiệm thời gian và cũng giảm nguy cơ bỏ qua các tính năng vượt quá khả năng chịu đựng.
Để biết thêm thông tin: www.zeiss.com/metrology