Nền tảng đo lường dạng 3D quang học linh hoạt cho các bề mặt quang học có đường kính lớn

Taylor Hobson đã công bố ra mắt hệ thống đo dạng bề mặt 3D không tiếp xúc siêu chính xác LUPHOScan 850 HD được thiết kế để thực hiện phép đo các bề mặt đối xứng xoay như thấu kính phi cầu, hình cầu, phẳng và quang học dạng tự do nhỏ. Các lợi ích chính của máy đo biên dạng bao gồm tốc độ đo nhanh và tính linh hoạt cao đối với các hình dạng bề mặt không phổ biến bao gồm các đỉnh phẳng hoặc biên dạng có các điểm uốn. Đẩy lùi ranh giới của đo lường quang học lớn Được xây dựng trên nền tảng của nền tảng LUPHOScan HD nổi tiếng thế giới của Taylor Hobson, LUPHOScan 850 HD cung cấp phép đo không tiếp xúc ổn định cho các ứng dụng quang học phức tạp lớn. Công cụ này đã được phát triển dựa trên sự hợp tác và lắng nghe chặt chẽ từ nhiều đối tác của công ty trong lĩnh vực sản xuất quang học. Các nhà đo lường của chúng tôi hiểu tầm quan trọng của việc thiết kế một hệ thống cung cấp dữ liệu đo lường có độ chính xác cao, có thể lặp lại và đáng tin cậy. Công nghệ tối ưu hóa cho độ chính xác và khả năng tái tạo LUPHOScan 850 HD kết hợp khung đo lường Granite đảm bảo bù chính xác cho sự giãn nở nhiệt với thiết kế tối ưu hóa để giảm thiểu rung động. Tích hợp bù thời gian thực cho các điều kiện xung quanh (4 Cảm biến nhiệt độ và 1 cảm biến áp suất không khí) cùng với tiếng ồn hệ thống thấp để mang lại hiệu suất có độ chính xác cao. Chống rung chủ động mang lại sự cách ly tối ưu cho vòng đo trong khi hệ thống cân bằng và trung tâm tự động cung cấp kết quả chính xác nhất quán thông qua tự động hóa phép đo hoàn chỉnh.

Đặc điểm kỹ thuật của hệ thống: – Đường kính 5 mm đến 850 mm x chiều cao 210 mm – Tải trọng phôi lên đến 350 kg – Các phép đo sai số dạng chính xác và có thể lặp lại ở < λ/20 (PV99) và <5 nm RMS* – Mật độ dữ liệu lên tới 6 triệu điểm dữ liệu để phân tích chính xác không gian giữa ở đường kính lớn – Phép đo dạng tự do lên đến ±8 độ cho độ dốc tiếp tuyến (độ dốc xuyên tâm 90 độ) Để biết thêm thông tin: www.taylor-hobson.com