Tiếng Việt
Tiếng Anh
Tiếng Hàn
Tiếng TrungAFM là một loại thiết bị đo lường và phân tích quét bề mặt của mẫu bằng đầu dò có đầu có đường kính chỉ vài nanomet. AFM có thể trực quan hóa bề mặt mẫu ở cấp độ nano và đồng thời thực hiện các đánh giá thuộc tính vật lý. AFM được sử dụng trong nghiên cứu và phát triển và kiểm soát chất lượng trên nhiều ngành công nghiệp, chẳng hạn như chất bán dẫn, polyme và y sinh. Hitachi High-Tech cung cấp nhiều loại thiết bị AFM thân thiện với người dùng và không ngừng cải thiện độ tin cậy của các thiết bị này bằng cách đơn giản hóa quy trình đo AFM và ngăn chặn sự khác biệt về dữ liệu do người vận hành gây ra.
Bối cảnh phát triển AFM100 ProTrong những năm gần đây, việc phát triển các vật liệu chức năng tiên tiến đã tập trung vào kỹ thuật cấp độ nano, để tạo điều kiện phát triển tính trung hòa carbon, chuyển đổi kỹ thuật số (DX) liên quan đến AI và IoT, EV, 5G và các thiết bị năng lượng. Khi các vật liệu chức năng mới ngày càng nhỏ hơn, mỏng hơn và hữu cơ hơn, nhu cầu cải thiện độ nhạy khi đo các thay đổi vi mô và các biến thể nhỏ trong tính chất vật lý của bề mặt vật liệu ngày càng tăng.
Tính năng AFM100 ProĐể đối mặt với những thách thức này, AFM100 Pro do Hitachi High-Tech phát triển được trang bị đầu quang học có độ nhạy cao mới được phát triển sử dụng kích thích quang nhiệt để đạt được độ nhạy được cải thiện khi đo các tính chất vật lý và phép đo ở quy mô nguyên tử và phân tử. Các tính năng chính của sản phẩm này là:
Đầu quang học có độ nhạy cao cải thiện độ nhạy khi đo các đặc tính vật lý: Đầu quang học có độ nhạy cao mới được phát triển giúp giảm mức độ tiếng ồn khi phát hiện dịch chuyển công xôn và tối ưu hóa độ nhạy phát hiện. Ngoài ra, chức năng kích thích quang nhiệt (IR-Drive), kích thích công cụ đúc hẫng bằng ánh sáng, cho phép kiểm soát ổn định biên độ dao động của công cụ đúc hẫng theo thứ tự bước sóng phụ. Điều này cho phép đo độ phân giải cao khi quan sát trong chất lỏng. Phân tích tương quan nâng cao với phép đo độ nhạy cao: Đầu quang học có độ nhạy cao với độ nhiễu giảm đáng kể cho phép phát hiện những khác biệt tinh tế về đặc tính vật lý, không thể quan sát được bằng đầu quang học thông thường do độ nhiễu tương đối cao hơn. Chức năng Đánh dấu AFM tùy chọn giúp dễ dàng quan sát cùng một vị trí với SEM góp phần đáng kể vào việc xác định các yếu tố đằng sau sự khác biệt tinh tế trong thông tin thuộc tính vật lý. Có thể mở rộng và Bền bỉ: Cả mẫu AFM100 tiêu chuẩn và AFM100 Plus đều có thể được nâng cấp lên AFM100 Pro. Ví dụ: bạn có thể bắt đầu với AFM100 thân thiện với ngân sách, sau đó nâng cấp lên AFM100 Pro sau nếu bạn cần mức độ phân tích cao hơn. Ngoài ra, chức năng tự kiểm tra được trang bị tiêu chuẩn để đảm bảo độ tin cậy của thiết bị trong thời gian dài.Để biết thêm thông tin: www.hitachi-hightech.com
