CMM cũ được chuyển đổi thành máy đo cấu hình quang học 3D Nano

Khi thời đại Công nghiệp 4.0 đến với chúng ta, nhu cầu ngày càng tăng đối với các quy trình sản xuất tiên tiến và kỹ thuật sản xuất có độ chính xác cao. Liên quan đến các yêu cầu về chất lượng bề mặt trong sản xuất, kiểm tra quang học là cách chung nhất để phát hiện chất lượng bề mặt thành phần bằng cách đo độ nhám, cấu hình vi mô và các thông số liên quan khác. Tuy nhiên, không phải mọi phôi gia công đều có thể được kiểm tra bằng máy đo cấu hình quang học tiêu chuẩn. Nhà cung cấp thiết bị đo lường Trung Quốc, Chotest, gần đây đã được yêu cầu hỗ trợ nhu cầu đo lường của một nhà cung cấp ngành công nghiệp phụ tùng ô tô. Máy đo cấu hình giao thoa kế ánh sáng trắng quang học hiện tại của họ không có khả năng kiểm tra do kích thước bộ phận và chi phí để tùy chỉnh máy đo cấu hình kích thước lớn bị cấm. Làm thế nào để phát hiện chất lượng bề mặt của loại phôi lớn này?

Đội ngũ kỹ thuật của Chotest đã đưa ra câu trả lời của họ bằng cách tìm một CMM không dùng nữa, bổ sung tính năng cách ly rung động bằng khí nén và trang bị thêm đầu dò Giao thoa kế ánh sáng trắng WX-100 của họ cho máy đã chuyển đổi. Cảm biến độ nghiêng cơ giới 4 DoF WX-100, đầu dò giao thoa ánh sáng trắng, kết hợp khả năng phân giải 0,1nm tuyệt vời với chức năng quét của đầu dò giao thoa ánh sáng trắng truyền thống đồng thời cung cấp khả năng điều chỉnh độ nghiêng điện tử. Khác với đầu dò giao thoa ánh sáng trắng truyền thống, với mô-đun quét chính xác và hệ thống giao thoa quang học, WX-100 ghép thiết bị điều chỉnh độ nghiêng từ giai đoạn XY sang đầu dò, cung cấp cho ống kính khả năng điều chỉnh góc không gian như ngáp và cao độ, và làm cho nó phù hợp với nhiều ứng dụng khối lượng lớn.

Cơ chế điều chỉnh độ nghiêng điện WX-100 được tích hợp cung cấp bốn bậc tự do trong cao độ và độ lệch, đồng thời giảm đáng kể yêu cầu đối với bệ đo hỗ trợ. Phạm vi chuyển động điện tử theo hướng Z là 30 mm. Chức năng đo lường: Thực hiện quét Z bề mặt mẫu có độ chính xác cao để thu được hình ảnh 3D. Chức năng phân tích: Lấy dữ liệu 2D và 3D bao gồm độ nhám bề mặt, kích thước đường viền ở cấp độ micro-nano. Chức năng lập trình: Hỗ trợ các bước công cụ phân tích và xử lý dữ liệu được định cấu hình sẵn, một cú nhấp chuột để hoàn thành toàn bộ quy trình. Phân tích hàng loạt: Các mẫu phân tích và xử lý dữ liệu có thể được tùy chỉnh theo nhu cầu của khách hàng và có thể thực hiện phân tích hàng loạt bằng một cú nhấp chuột cho cùng một loại dữ liệu tham số.

Để biết thêm thông tin: www.chotest.com